明年iPhone 15有望全系采用“感叹号”开孔设计

　　当刘海设计的 iPhone X 发布之初，很多人都调侃和吐槽这样的外观设计。当时虽然很多人都认为刘海设计并不好看，而且对于 Face ID 替代 Touch ID 表示惋惜，但是在几年后刘海成为了 iPhone 区别于其他 Android 打孔设计的重要标志。

　　不过近期有传闻称，2023 年推出的 iPhone 15 有望完全消除刘海设计。据屏幕供应链咨询公司 DSCC 分析师 Ross Young 透露，所有的 iPhone 15 将采用“感叹号”设计，就是同时具备打孔和药丸组合，其中打孔部分主要容纳 iPhone 的前置摄像头，而药丸部分开孔主要容纳 Face ID 等传感器。这样的组合看起来像是横放的“感叹号”。

　　虽然这些切口的确切尺寸还有待观察，但下面是该设计可能出现的效果图。顺便说一下，实际的切口可能比上面的渲染图略宽。不过，按理说，在未来的几年里，苹果会尽量使这些传感器不显眼。

　　令人振奋的消息是，我们实际上不必等到 iPhone 15 才看到这种略有改变的外形。相反，有传言说，苹果即将推出的 iPhone 14 Pro 机型将在今年晚些时候拥有这种新设计。有传言说，苹果最好将其 Face ID 传感器嵌入到显示屏本身的下方，但没有迹象表明这很快就会发生。在这期间，上面的渲染图可能说明了 iPhone 设计的下一步演变。

编辑：齐少恒